XAPTEC XC-System (3D-Konturinspektion)

Die Bandsensorsysteme der Xaptec XC-Serie sind speziell für die Erfassung einer Kontur von band- und bahnförmigen Materialien konzipiert. Die klassische Abstandsmessung durch Lasertriangulation wird mit der neuartigen Xaptec-Architektur kombiniert, wodurch Bandquerprofile oder Konturen kontinuierlich und berührungslos quer und längs zur Bandlaufrichtung analysiert werden können - annähernd unabhängig von der Materialbeschaffenheit.

Im Gegensatz zu Systemen mit konventionellen Zeilen- oder Matrixkameras, weist die Xaptec XC-Serie so eine geringere Messunsicherheit und höhere Messraten bei beträchtlich minimiertem Einbauraum auf und dies für nahezu beliebige Bandbreiten bis 8 m. Die durch die Lasereinheit projizierte Linie stellt pro Meter Bandbreite bis zu 16.000 Messpunkte zur Verfügung, die das Bandquerprofil lückenlos geometrisch beschreiben. Bereits in der Kameratraverse können diese Informationen in Echtzeit ausgewertet werden. Somit können beispielsweise Soll- und Istkonturen verglichen, und das Ergebnis unmittelbar an eine SPS, ein Fertigungsleitsystem oder eine PC-Visualisierung übertragen werden.

Beispielanwendungen:

• Wickeltechnik (Detektion von Balligkeit, Kolbenringe, ...)
• Schneidtechnik (Vermessung Längsschnitte, Kantendetektion, ...)
• Herstellung (Planlage, Dicke, Kantendetektion, ...)

Datenblätter und weitere Informationen finden Sie nach dem Login im Downloadbereich.